小安電路板檢測熱像儀ATiC 115 解決方案

 電(dian)路板(ban)上的(de)芯片或其(qi)它功率(lv)(lv)器件(jian)的(de)溫度(du)檢測(ce)在研發(fa)(fa)、 維修(xiu)等(deng)環(huan)節(jie)有重要意(yi)義(yi)。研發(fa)(fa)階(jie)段，熱像(xiang)儀解決了(le)(le)使 用傳(chuan)統熱電(dian)偶布點、數據收集整理效率(lv)(lv)低下不夠直觀(guan) 的(de)問題，也給研發(fa)(fa)的(de)后(hou)續設計改進提供了(le)(le)***的(de)信 息。維修(xiu)階(jie)段，熱像(xiang)儀直觀(guan)快速(su)的(de)定位故障點，大大 降低維修(xiu)操作的(de)技能門檻，也***節(jie)約了(le)(le)檢測(ce)維修(xiu)的(de) 時(shi)間。 

產品特點 ：

高原始紅外像素，成(cheng)像清(qing)晰 

全局(ju)溫度點自動追蹤，及(ji)時抓住瞬間電路缺陷 

15種偽彩切換，讓缺(que)陷(xian)顯示更有層(ceng)次 

免調焦(jiao)，開機即用(yong)，省(sheng)去對焦(jiao)環節 

Type-C手機(ji)直連(lian)，超長時間(jian)續航檢測連(lian)續性 

研發級別實驗平臺 操作簡單同時(shi)測(ce)得穩、測(ce)得 準、測(ce)的快 

支(zhi)持MP4視(shi)頻錄(lu)制 

電路板溫(wen)度變(bian)化全(quan)程留存

小安電路板檢測熱像儀ATiC 115信息參數

熱(re)(re)(re)(re)像(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)就是將(jiang)物體發(fa)出的(de)不(bu)可(ke)見(jian)紅外(wai)能量(liang)(liang)(liang)轉(zhuan)變為可(ke)見(jian)的(de)熱(re)(re)(re)(re)圖(tu)像(xiang)(xiang)。熱(re)(re)(re)(re)圖(tu)像(xiang)(xiang)的(de)上(shang)(shang)面(mian)(mian)的(de)不(bu)同顏色(se)代表被測物體的(de)不(bu)同溫(wen)(wen)度。通過查看(kan)熱(re)(re)(re)(re)圖(tu)像(xiang)(xiang)，可(ke)以觀(guan)察(cha)到被測目(mu)標的(de)整體溫(wen)(wen)度分布(bu)狀況(kuang)，研究目(mu)標的(de)發(fa)熱(re)(re)(re)(re)情(qing)況(kuang)，從而(er)進行下(xia)一步工(gong)作(zuo)的(de)判(pan)斷(duan)。 現代熱(re)(re)(re)(re)像(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)的(de)工(gong)作(zuo)原理是使用光電設備來檢測和(he)測量(liang)(liang)(liang)輻射，并在輻射與表面(mian)(mian)溫(wen)(wen)度之間建立(li)相(xiang)互(hu)聯系(xi)。所有高于絕對(dui)零度（-273℃）的(de)物體都會發(fa)出紅外(wai)輻射。熱(re)(re)(re)(re)像(xiang)(xiang)儀(yi)(yi)利用紅外(wai)探(tan)測器和(he)光學(xue)成像(xiang)(xiang)物鏡(jing)接受被測目(mu)標的(de)紅外(wai)輻射能量(liang)(liang)(liang)分布(bu)圖(tu)形反(fan)映到紅外(wai)探(tan)測器的(de)光敏元件上(shang)(shang)，從而(er)獲(huo)得紅外(wai)熱(re)(re)(re)(re)像(xiang)(xiang)圖(tu)，這種熱(re)(re)(re)(re)像(xiang)(xiang)圖(tu)與物體表面(mian)(mian)的(de)熱(re)(re)(re)(re)分布(bu)場相(xiang)對(dui)應。