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簡(jian)要描(miao)述(shu)：2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 功能如下：絕緣測量量程高達500GΩ；具備快速測量設計，絕緣阻值會較快達到穩定讀數，工作快人*！具備自動計算的極化指數（PI）/介電吸收比（DAR）功能/介質放電率（DD）功能**低功耗設計滿(man)足高強度工(gong)作需(xu)求：2500V測(ce)(ce)量(liang)次(ci)數高達1300次(ci)，250V測(ce)(ce)量(liang)可達6500次(ci)*；
產品(pin)型號：F1535/F1537
廠商(shang)性質：經銷商
更(geng)新時間(jian)：2024-04-28
訪 問 量：1711
詳細介紹
2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 主要特性
Fluke1535功能如(ru)下：
絕緣(yuan)測量量程高(gao)達500GΩ；
具備快(kuai)速測量設計，絕緣阻(zu)值會(hui)較快(kuai)達(da)到穩定讀數(shu)，工作快(kuai)人*！
具備自動計(ji)算的極(ji)化指數（PI）/介電吸收(shou)比（DAR）功能/介質放電率（DD）功能**
低(di)功(gong)耗設計滿足高(gao)(gao)強度(du)工作需求：2500V測量次數高(gao)(gao)達1300次，250V測量可達6500次*；
具備高安全性設(she)計，具有危險電(dian)壓報警功能，符合(he)CAT IV 600V標準及電(dian)力行業規(gui)范DLT845；
全新高可靠性設計，包括50°C高溫和80%濕度環境下，依舊保持對應的電氣規格，表筆及對應端口通過30000次插拔實驗。
*基于Fluke內部實驗室測量(liang)
Fluke1537除具備上述(shu)特點(dian)外，還具有以下功(gong)能：
交流(liu)電(dian)壓/直流(liu)電(dian)壓/電(dian)阻(zu)測量
可微(wei)調的測(ce)試電壓：250 V至(zhi)2500 V，調節幅度為100 V
介質放電(DD)
線(xian)性(xing)增加(100 V/s)應(ying)用測試電壓(ya)的步進模式
用戶自定義標簽，*測試，測量結果(guo)保存
擊穿電壓指示
用于下(xia)載(zai)測(ce)試數據的Mini USB接口
PC軟件
2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 產品規格:
通用技術指標 | |
顯示屏 | 73.5 mm x 104 mm |
電池 | 8節IEC LR6 AA堿性電(dian)池 |
外形尺寸（高x寬x長） | 184x211x93(mm) |
重量 | 1.3 kg |
溫度 |
|
工作溫度 | -10 °C至+50 °C |
存放溫(wen)度(du) | -20 °C至(zhi)+60 °C |
工作濕度 | 無冷凝（<10 °C） |
| ≤80 %相對(dui)濕度（10 °C至30 °C） |
| ≤50 %相(xiang)對(dui)濕度（30 °C至50 °C） |
海拔 |
|
工作海拔 | 2000 m |
存放海拔 | 12000 m |
過電壓類別 | CAT IV 600 V |
安全性 |
|
通用 | IEC 61010-1，污染等級2 |
| IEC 61010-2-033：CAT IV 600 V |
| IEC 61557-1 |
絕緣電阻測量 | IEC 61557-2 |
保護措施有效性 | IEC 61557-16 |
防護(IP)等級 | IEC 60529 IP40 |
電磁(ci)兼(jian)容性(EMC) |
|
IEC 61326-1：便攜式電磁(ci)環境 | |
| IEC 61326-2-2 CISPR 11：第1組，A類 |
第1組：設備內(nei)部產生和/或(huo)使用與傳導相關的(de)無線電頻率能(neng)量(liang)，該(gai)能(neng)量(liang)對(dui)于設備自身的(de)內(nei)部功(gong)能(neng)*。
A類：設備適用于非家庭使用以及未直接連接到為住宅建筑物供電的低電壓網絡的任意設備中。由于傳導干擾和輻射干擾，在其他環境中可能難以保證電磁兼容性。
小心：此設備不可用(yong)于住宅環境，且(qie)在此類環境中可能無法(fa)提供充分的無線電接收(shou)保護(hu)。
電氣技術指標 | |||
測試儀經校(xiao)準后(hou)在10 °C至30 °C的工作溫(wen)度條件下其度可(ke)以(yi)維持(chi)1年。在工作溫(wen)度范圍以(yi)外（-10 °C至+10°C和+30 °C至+50 °C），波(bo)動(dong)(dong)變化為(wei)5 %時每(mei)攝(she)氏度增(zeng)加±0.25 %，波(bo)動(dong)(dong)變化為(wei)20 %時每(mei)攝(she)氏度增(zeng)加±1 %。 | |||
絕緣電阻測試 | |||
測試電壓(ya) | 量程 | 分辨率 | 準確度 |
250 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | |
>50 GΩ | 未 | 未 | |
500 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至(zhi)5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至(zhi)50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至10.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | |
10.0 GΩ至50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | |
50 GΩ至100 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | |
>100 GΩ | 未 | 未 | |
1000 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至(zhi)5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至20.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | |
20.0 GΩ至50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | |
50 GΩ至200 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | |
>200 GΩ | 未 | 未 | |
2500 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至(zhi)5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至50.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | |
50 GΩ至500 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | |
>500 GΩ | 未 | 未 | |
長(chang)條圖(tu)量程(cheng)：0 Ω至500GΩ絕緣測(ce)試電(dian)(dian)壓度：-0 %，在1 mA電(dian)(dian)流(liu)時為+10 %電(dian)(dian)容載荷(he)充電(dian)(dian)率：5 s/μF電(dian)(dian)容載荷(he)放電(dian)(dian)率：1.5 s/μF
標準配置：
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