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涂層測厚儀

簡(jian)要描述(shu):涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
可使用一(yi)片(pian)或二片(pian)標準箔校準

  • 產品型號(hao):MiniTest1100
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-04-28
  • 訪  問  量:2040

詳細介紹

 

涂層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)公司

涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
可使用一片或二片標準箔校準

德國EPK(Elektrophysik)公司

涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100功能:

型(xing)號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數據量(liang)

應用(yong)行數(根據不同探頭或測試條件而記(ji)憶的校準(zhun)基礎數據數)

1

1

10

99

每個應用行(xing)下的組(zu)(BATCH)數(shu)(shu)(對組(zu)內數(shu)(shu)據自(zi)動統計,可設(she)寬容度極(ji)限值)

-

1

10

99

可用各(ge)自的日期和時間標識特性的組數

-

1

500

500

數據總量(liang)

1

10000

10000

10000

MINITEST統計計算功能(neng)

讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數的八種統(tong)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組(zu)統計(ji)值八(ba)種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲(chu)顯示每一個(ge)應用行(xing)下的(de)所(suo)有組內(nei)數據

-

-

-

分組打印以(yi)上顯示和存儲的數據和統計(ji)值(zhi)

-

-

顯(xian)示并打(da)印測量(liang)值、打(da)印的日(ri)期和時間

-

其他(ta)功能

透過涂層進行校準(zhun)(CTC)

-

在粗糙表(biao)面(mian)上作平均零(ling)校準

利用(yong)計算機(ji)進行基礎校(xiao)準

補償(chang)一個常數(Offset)

-

-

外設的(de)讀(du)值傳輸存儲功能

-

保(bao)護并鎖(suo)定校準設置

更換電池是存儲(chu)數值

設置極(ji)限值

-

-

公英(ying)制轉換

連續測(ce)量模式快速測(ce)量,通過(guo)模擬柱識別(bie)大小(xiao)值

-

-

連續(xu)測(ce)量(liang)模式中測(ce)量(liang)穩定后顯示讀數

-

-

浮點和定點方(fang)式數據傳送

組內單值延遲(chi)顯示(shi)

-

連續(xu)測(ce)量模式中顯示小值


涂層測厚儀德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數

所有探頭(tou)都可(ke)配合(he)任一(yi)主機使用。在選擇適用的探頭(tou)時需(xu)要考慮(lv)覆(fu)層厚度,

基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

備注:

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭(tou)圖片(pian):

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