聲波探傷儀主要由聲波探頭及其附屬部件組成，評判調整聲波探傷儀的性能，一般采用標準試塊。聲波探頭又稱壓電聲換能器，是實現電——聲能量相互轉換的能量轉換器件。

1．探頭的(de)種類

⑴直(zhi)探頭(tou)：聲(sheng)束垂(chui)直(zhi)于被探(tan)工件表(biao)面入射(she)的探(tan)頭(tou)稱為(wei)直(zhi)探(tan)頭(tou)。它可發(fa)射(she)和接收縱波。由壓電(dian)

元件、吸收塊、保護膜和殼體等組成。

⑵斜(xie)探頭：利用(yong)透聲斜楔塊使(shi)聲束傾斜于工(gong)件表面入(ru)射工(gong)件的探頭(tou)稱(cheng)為斜探頭(tou)。它可(ke)發射和

接收橫波。

典型的(de)斜探頭結構如表所示，它由(you)探頭、斜楔塊(kuai)、吸收(shou)塊(kuai)和殼(ke)體等組成。探頭與直探頭相似，也是由(you)電(dian)(dian)壓元件(jian)和吸收(shou)塊(kuai)組成。斜楔塊(kuai)用有(you)機玻璃制(zhi)作，它與工(gong)件(jian)組成固(gu)定傾(qing)斜的(de)異質界面，使探頭中壓電(dian)(dian)元件(jian)發射的(de)縱波(bo)通過波(bo)型轉換(huan)，以(yi)折射橫(heng)波(bo)在(zai)工(gong)件(jian)中傳播。通常橫(heng)波(bo)斜探頭以(yi)鋼中折射角標稱：有(you)γ=40°、45°、50°、60°、70°等幾種(zhong)；有(you)時也以折(zhe)射(she)角(jiao)的正切值(zhi)標(biao)稱：k=tgγ=1.0、1.5、2.0、2.5、3.0。  

⑶水浸聚焦探頭(tou)：一(yi)(yi)種由聲(sheng)探頭(tou)和聲(sheng)透鏡(jing)組合而成的探頭(tou)。聲(sheng)透鏡(jing)由環氧樹脂澆鑄成球形(xing)或(huo)圓柱(zhu)形(xing)凹透鏡(jing)，類似光(guang)學透鏡(jing)能(neng)(neng)使光(guang)線(xian)(xian)聚(ju)焦一(yi)(yi)樣(yang)，它可使聲(sheng)波(bo)束集(ji)(ji)聚(ju)成一(yi)(yi)點或(huo)一(yi)(yi)條線(xian)(xian)。由于聚(ju)焦探頭(tou)的聲(sheng)束變細，聲(sheng)能(neng)(neng)集(ji)(ji)中，從而大幅度改(gai)善了聲(sheng)波(bo)的指向性，提高了靈(ling)敏度和分辨力(li)。

⑷雙晶探頭(tou)：為(wei)了彌補普通直探(tan)頭探(tan)測(ce)近表面缺(que)陷時存(cun)在著(zhu)盲區大(da)、分(fen)辨力低(di)的缺(que)點而設計的探(tan)頭。探(tan)頭內含兩個壓電元(yuan)件，分(fen)別是(shi)發射晶片(pian)和接收晶片(pian)，中間(jian)用隔聲(sheng)層分(fen)開(kai)。雙晶探(tan)頭又(you)稱為(wei)分(fen)割式TR探(tan)頭，主要用于(yu)探(tan)測(ce)近表面缺陷(xian)和薄工件的測(ce)厚。

2．探(tan)頭的主要參數

探頭性能的好壞，直接影響著探傷結果的可靠性和準確性。因此，對探頭性能的有關指標，規定了基本的要求，生產中需定期測試以探傷質量。焊縫聲波探傷常用斜探頭。斜探頭的主要性能參數如下：

⑴折(zhe)射(she)角γ或(huo)k值：γ或K值大(da)小決定了(le)聲(sheng)束入射工件(jian)的(de)(de)方向和聲(sheng)波傳播途徑，是(shi)為缺(que)陷定位計算提供的(de)(de)一(yi)個(ge)有用數據，因此探頭使用磨(mo)損后(hou)均(jun)需測量(liang)γ或k值。

⑵前沿(yan)長(chang)度：聲束(shu)入射(she)點(dian)至探(tan)頭前(qian)端面的距離稱為(wei)前(qian)沿長度，又稱為(wei)接近長度。它反映(ying)了探(tan)頭對(dui)(dui)有余高的焊(han)縫接近的程度。入射(she)點(dian)是探(tan)頭聲束(shu)軸線與楔塊底面的交(jiao)點(dian)。探(tan)頭在使(shi)用前(qian)和使(shi)用過程中要(yao)經常要(yao)測定(ding)入射(she)點(dian)位置(zhi)，以便對(dui)(dui)缺(que)陷進行(xing)準確定(ding)位。

⑶聲軸偏離角：它反映了主聲束中心軸線與晶片中心法線的重合程度。聲軸偏離角除直接影響缺陷定位和指示長度的測量精度外，還會導致探傷者對缺陷方向產生誤判，從而影響對探傷結果的分析。

3．探頭型號:

探頭型(xing)號由五部(bu)分組成，用一(yi)組數(shu)字和(he)字母表(biao)示。

探頭特征：

⑴ 探頭基本頻率(lv)：單位為(wei)MHz。

⑵ 壓(ya)電晶片材料：常用(yong)的(de)壓電晶片材料(liao)及其(qi)代號(hao)見表所示(shi)。

⑶ 壓電晶片(pian)尺寸：單位為(wei)mm。圓形(xing)(xing)晶片(pian)(pian)為晶片(pian)(pian)直徑；方形(xing)(xing)晶片(pian)(pian)長度×寬(kuan)度，分(fen)割探頭(tou)晶片(pian)(pian)為分(fen)割前的(de)尺寸。

⑷ 探(tan)頭(tou)種(zhong)類：用漢語(yu)拼音(yin)縮寫字(zi)母表示(shi)，見表所示(shi)。

常用壓電晶片材料和探頭的代號

 ⑸ 探頭(tou)特征(zheng)：斜探頭用K值或γ表(biao)示(shi)，單位為度；分割探頭為被探