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超聲波測厚儀的基本原理和產品特點概述

更新時間:2021-07-19      點擊次數:1512
    超聲波測厚儀(yi)是根據超聲波脈沖反沖原理來進行測量厚度的,當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
 
  超聲波測厚儀的基本原理:
  采用超聲波測量原理,適用于能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似。探頭發射的超聲波脈沖到達背測物體并在物體中傳播,到達材料分界面時被反射回探頭,通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
 
  超聲波測厚儀的產品特點:
  高精度測厚:具有探頭零點校準、兩點校準功能,可對系統誤差進行自動修正;根據已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度。
 
  掃描模式:實時顯示測量材料大小值。
 
  通信,存儲:USB接口可與上位機通信,實現測厚數據在線統計,TF卡存儲保存。
 
  穿透涂層測厚:強大的穿透涂層測厚功能使您免除辛苦打磨的繁瑣準備工作,只需略微處理涂層表面就可以實現輕松測厚。
 
  測值準確:高精度的測量電路保證在整個測量范圍內都為0.1/0.01mm的分辨率。
 
  顯示界面:真彩液晶屏作為顯示界面,背光亮度可調,自動熄屏功能。
 
  中英文界面自由切換,客戶使用更加方便快捷。
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